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时间:2026-09-06
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X射线衍射仪(XRD, X-Ray Diffractometer) 是利用X射线在晶体中的衍射效应,无损分析材料晶体结构、物相组成、晶粒尺寸、应力状态等微观信息的核心表征设备,广泛应用于材料、冶金、地质、化工、医药等领域。
设备图片
图谱示意图
工作原理
设备参数
应用领域
物相定性/定量分析:鉴定晶体种类、含量(匹配 PDF 卡片)
晶体结构测定:晶胞参数、晶系、空间群
晶粒尺寸/微观应变:谢乐公式、Williamson-Hall 法
结晶度、取向度(织构)
薄膜/多层膜分析:厚度、应力、界面结构
残余应力测定
高温/原位结构演化
参考标准
XRD物相分析测试图
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